產品英文名稱：DNA Damage Quantification Kit-AP Site Counting
產品中文名稱：DNA損傷定量試劑盒-AP位點計數(shù)

DNA Damage Quantification Kit-AP Site Counting 產品特性
測定基因組DNA樣品中無堿基位點的數(shù)目
比色微板法檢測
檢測范圍：1-40個abasic sites / 1×105個堿基對的DNA

DNA Damage Quantification Kit-AP Site Counting 概述
DNA的氧化損傷是由于DNA與活性氧 (ROS) 尤其是羥自由基之間的相互作用造成的。由超氧陰離子和過氧化氫通過Fenton反應產生的羥自由基在DNA中產生多重修飾。羥自由基對脫氧核糖基團的氧化攻擊將導致DNA釋放自由堿基，產生鏈斷裂、各種糖修飾以及單個無堿基位點 (AP位點) 。事實上，AP位點是由ROS產生的損傷的主要類型。醛反應性探針 (ARP； -氨氧基甲基羰基肼-D-生物素) 特異性地與AP位點的開環(huán)上的醛基反應。通過這個反應可以檢測到導致醛基形成的DNA修飾。用過量ARP試劑反應后，DNA上的所有AP位點均用生物素做了標簽?？梢杂糜H和素-生物素法，用連接到親和素上的過氧化物酶或堿性磷酸酶做比色法檢測來對這些帶有生物素標簽的AP位點進行計數(shù)。DNA損傷定量試劑盒包含用于檢測每1×105個堿基對中1-40個AP位點的所有必需溶液。

DNA Damage Quantification Kit-AP Site Counting 試劑盒內容
ARP solution.................................250 μl × 1管
ARP-DNA standard solution.........不同濃度各250 μl
Filtration tube................................20管
Washing buffer.............................1包
96孔板..........................................1塊
DNA binding solution..........10 ml × 1瓶
Substrate solution...............10 ml × 1瓶
TE buffer.............................40 ml × 1瓶
HRP-streptavidin................ 25 μl × 1管

DNA Damage Quantification Kit-AP Site Counting 注意事項
1.請將試劑盒在0-5℃保存，不要冷凍。Washing buffer Solution在室溫保存。
2.AP-DNA不穩(wěn)定，從樣品中分離出基因組DNA后請用ARP處理并用過濾管純化。純化的ARP-DNA在0-5℃可以保存1年。
3.純化ARP-DNA后應立即加入200 μl TE buffer，如果旋轉震蕩后的DNA放在過濾管中超過30分鐘，DNA的回收率會下降。 在混合DNA Solution和DNA Binding Solution時，使用γ射線消毒的過濾管會造成DNA粘附在過濾管上，
4.如果一定要使用過濾管，請不要使用γ射線消毒的過濾管。
5.如果想精確測定樣品DNA的AP位點數(shù)量，建議重復多次測定。
6.如果樣品DNA Solution少于10 μl，請用等量的ARP Solution，在用過濾管純化后要測定DNA的濃度。
7.在測定時如果沒有630-670 nm的濾波片，可以從每孔中吸取50 μl溶液到一個新的96孔板中，每孔加入50 μl 1 M濃度的硫酸（sulfuric acid），在450 nm波長處檢測。
8.剩余的溶液會帶來誤差，在每一步可以采用在紙巾上充分拍打96孔板的方式去除剩余的溶液。